CVD SiC belegg Dummy wafer

Som en ledende kinesisk sic wafer produsenter og leverandører, er VeTek Semiconductor CVD SiC coating Dummy wafer et spesialisert verktøy innen halvlederproduksjon, hovedsakelig brukt for testing av silisium wafer og wafer testing prosess. Dine ytterligere henvendelser er velkomne.

Send forespørsel

produktbeskrivelse

Produktegenskaper til VeTeksemi CVD SiC-belegg Dummy wafer:

● Gassmotstand ved høy temperatur: SiC Dummy Wafer har utmerket motstand mot høytemperaturgasserosjon, egnet for bruk under ekstreme forhold. Denne motstandskraften sikrer jevn ytelse selv i de mest krevende miljøer.

● Langsiktig strukturell integritet: CVD SiC-belegg Dummy-wafere er designet for å motstå bøyning og deformasjon over lengre tidsperioder. Deres holdbarhet sikrer at de forblir pålitelige over flere testsykluser, noe som reduserer behovet for hyppig utskifting.

● Partikkelfri overflate: SiC dummy wafere har en overflate som er lett å rengjøre som minimerer partikkelproblemer, noe som er avgjørende for å opprettholde et forurensningsfritt miljø. Denne funksjonen støtter resultater av høy kvalitet og reduserer risikoen for defekter.

● Kjemisk stabilitet: Den kjemiske stabiliteten til SiC-belagt Dummy wafer gjør at den tåler en rekke etsende stoffer uten nedbrytning. Denne funksjonen er avgjørende for å opprettholde integriteten til waferen under kjemisk eksponering.

veteksemi CVD SiC coating products

Spesifikk bruk av CVD SiC-belagte dummy wafere:

● Allsidig testing og eksperimentering: SiC-belagte dummy wafere er essensielle i alle stadier av halvlederproduksjonen, og gir en sikker og pålitelig metode for testing og eksperimentering. De er avgjørende i begynnelsen av produksjonsprosessen, og sikrer at alle parametere er optimale før de verdifulle produksjonsplatene brukes.

● Beskyttelse under diffusjon: Under diffusjonsprosessen spiller dummy wafere en viktig rolle ved å skjerme standard silisium wafere. Denne beskyttelsesfunksjonen forhindrer skade og forurensning, og opprettholder dermed integriteten og kvaliteten til den originale waferen.

● Målenøyaktighet: Disse skivene brukes nøye til å måle filmtykkelse, trykkmotstand og reflekterende indeks. De hjelper også med å oppdage tilstedeværelsen av pinballs og evaluere mønsterdimensjoner i litografi, noe som gir et betydelig bidrag til prosessnøyaktighet og defektreduksjon.

Faktisk støtter VeTek Semiconductor tilpassede produkttjenester og kan gi brukerdefinert serialisering på hver CVD SiC-belegg dummy wafer i henhold til kundenes behov, noe som gir mulighet for tilpasset størrelse og tykkelse. Tilpasset lasergravering eliminerer ytterligere risikoen for krysskontaminering, og sikrer en høy grad av renhet og pålitelighet.